Deutsch Intern
    Lehrstuhl für Wirtschaftsinformatik und Business Analytics

    Matthias Griebel


    • seit 06/2017 Wissenschaftlicher Mitarbeiter am Lehrstuhls für Wirtschaftsinformatik und Business Analytics der Julius-Maximilians-Universität Würzburg
    • 06/2017 M. Sc. Wirtschaftsinformatik an der Julius-Maximilians-Universität Würzburg
    • 01/2015 - 05/2015 Auslandssemester Florida Gulf Coast University, Fort Myers, USA.
    • 17/2014 B. Sc. Wirtschaftswissenschaften an der Julius-Maximilians-Universität Würzburg


    • Segebarth, Dennis ; Griebel, Matthias ; Stein, Nikolai ; von Collenberg, Cora R ; Martin, Corinna ; Fiedler, Dominik ; Comeras, Lucas B ; Sah, Anupam ; Schoeffler, Victoria ; Lueffe, Theresa ; Flath, Christoph M.: On the objectivity, reliability, and validity of deep learning enabled bioimage analyses. In: eLife (2020)
    • Oberdorf, Felix ; Stein, Nikolai ; Walk, Nicolas ; Griebel, Matthias ; Flath, Christoph M.: ADR for Big-Data IT Artifact Development: An Escalation Management Example.. In: Proceedings of the 41st International Conference on Information Systems (ICIS), 2020
    • Griebel, Matthias ; Welsch, Giacomo ; Greif, Toni ; Flath, Christoph M.: A Picture is Worth More than a Thousand Purchases: Designing an Image-based Fashion Curation System.. In: Proceedings of the 27th European Conference on Information Systems, 2019
    • Krenzer, Adrian ; Stein, Nikolai ; Griebel, Matthias ; Flath, Christoph M.: Augmented Intelligence for Quality Control of Manual Assembly Processes using Industrial Wearable Systems.. In: Proceedings of the 40th International Conference on Information Systems (ICIS), 2019
    • Griebel, Matthias ; Dürr, Alexander ; Stein, Nikolai: Applied image recognition: guidelines for using deep learning models in practice.. In: Proceedings of the 14th International Conference on Wirtschaftsinformatik, 2019, bll 393–406
    • Hauser, Matthias ; Griebel, Matthias ; Hanke, Jannis ; Thiesse, Frédéric: Empowering Smarter Fitting Rooms with RFID Data Analytics.. In: Leimeister, J. M. ; Brenner, W. (reds): Wirtschaftsinformatik, 2017
    • Hauser, Matthias ; Griebel, Matthias ; Thiesse, Frédéric: A hidden Markov model for distinguishing between RFID-tagged objects in adjacent areas.. In: RFID : IEEE, 2017 — ISBN 978-1-5090-4576-1, bll 167–173