Lehrstuhl für Wirtschaftsinformatik und Informationsmanagement

    Matthias Griebel


    • seit 06/2017 Wissenschaftlicher Mitarbeiter am Lehrstuhl für Wirtschaftsinformatik und Informationsmanagement der Julius-Maximilians-Universität Würzburg
    • 06/2017 M. Sc. Wirtschaftsinformatik an der Julius-Maximilians-Universität Würzburg
    • 01/2015 - 05/2015 Auslandssemester Florida Gulf Coast University, Fort Myers, USA.
    • 17/2014 B. Sc. Wirtschaftswissenschaften an der Julius-Maximilians-Universität Würzburg


    • Krenzer, Adrian ; Stein, Nikolai ; Griebel, Matthias ; Flath, Christoph M.: Augmented Intelligence for Quality Control of Manual Assembly Processes using Industrial Wearable Systems. In: Proceedings of the 40th International Conference on Information Systems (ICIS), 2019
    • Griebel, Matthias ; Welsch, Giacomo ; Greif, Toni ; Flath, Christoph M.: A Picture is worth more than a thousand Purchases: Designing an Image-based Fashion Curation System. In: Proceedings of the 27th European Conference on Information Systems, 2019
    • Griebel, Matthias ; Dürr, Alexander ; Stein, Nikolai: Applied image recognition: guidelines for using deep learning models in practice. In: Ludwig, T. ; Pipek, V. (reds): Wirtschaftsinformatik : University of Siegen, Germany / AISeL, 2019, bll 393-406
    • Segebarth, Dennis ; Griebel, Matthias ; Duerr, Alexander ; von Collenberg, Cora R ; Martin, Corinna ; Fiedler, Dominik ; Comeras, Lucas B ; Sah, Anupam ; Stein, Nikolai ; et al.: DeepFLaSh, a deep learning pipeline for segmentation of fluorescent labels in microscopy images. In: bioRxiv, Cold Spring Harbor Laboratory (2018), bl 473199
    • Hauser, Matthias ; Griebel, Matthias ; Hanke, Jannis ; Thiesse, Frédéric: Empowering Smarter Fitting Rooms with RFID Data Analytics. In: Leimeister, J. M. ; Brenner, W. (reds): Wirtschaftsinformatik, 2017
    • Hauser, Matthias ; Griebel, Matthias ; Thiesse, Frédéric: A hidden markov model for distinguishing between RFID-tagged objects in adjacent areas. In: 2017 IEEE International Conference on RFID (RFID) : IEEE, 2017, bl 167--173